Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2000-00-00 ОрганизацияНаучно-исследовательский институт полупроводников (ГНПП НИИПП), 634045 Томск, Россия * Сибирский физико-технический институт, 634050 Томск, Россия $ Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук, 634021 ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"


Изменение физико-химических свойств поверхности и приповерхностной области эпитаксиальных слоев n-GaAs под воздействием атомарного водорода
Торхов Н.А., Еремеев С.В.
Торхов Н.А., Еремеев С.В. Изменение физико-химических свойств поверхности и приповерхностной области эпитаксиальных слоев n-GaAs под воздействием атомарного водорода // ФТП, 2000, том 34, выпуск 2, Стр. 186
Аннотация Показана прямая связь изменений статических приборных характеристик барьеров Шоттки Au-GaAs с изменениями свойств поверхности при обработке структур n-n+-GaAs в атомарном водороде, заключающимися в изменении скорости травления поверхности n-GaAs в растворе диметилформамид : моноэтаноламин = 1 : 3, уменьшении скорости электрохимического осаждения и изменении структуры осаждаемого Au-слоя, а также в пассивации выходящих на поверхность линейных дефектов. Наблюдается практически полное отсутствие фигур травления на поверхности эпитаксиального слоя n-GaAs (100) при обработке в атомарном водороде незащищенной поверхности при температуре 100oC. Для защищенной пленкой SiO2 толщиной 50 Angstrem поверхности уменьшение скорости травления материала n-GaAs и значительное уменьшение количества фигур травления, уменьшение толщины осаждаемого слоя Au, изменение его структуры наблюдаются практически во всем температурном интервале обработок в атомарном водороде (100/ 400oC).

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален