Профиль » Публикация
Опубликовано
2001-00-00
ОрганизацияСанкт-Петербургский государственный технический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия + Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Анализ естественных неоднородностей потенциала уповерхности примесного полупроводника
Бондаренко В.Б., Кузьмин М.В., Кораблев В.В. Анализ естественных неоднородностей потенциала уповерхности примесного полупроводника // ФТП, 2001, том 35, выпуск 8, Стр. 964
Аннотация
Введено понятие естественного размерного эффекта в обедненных слоях полупроводника--- сравнимость характерного масштаба обедненного слоя со средним расстоянием между электроактивными дефектами. Определены естественные неоднородности электрического поля и потенциала на поверхности полупроводника в случаях собственных и примесных поверхностных состояний. Показана зависимость данных неоднородностей от параметров поверхности иобъема.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален