Профиль » Публикация
Опубликовано
2007-00-00
ОрганизацияУральский государственный технический университет (УПИ), 620002 Екатеринбург, Россия
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Сжатие токопроводящей области всобственном полупроводнике, вызванное джоулевым саморазогревом
Рыбаков Ф.Н., Мелких А.В., Повзнер А.А. Сжатие токопроводящей области всобственном полупроводнике, вызванное джоулевым саморазогревом // ФТП, 2007, том 41, выпуск 1, Стр. 20
Аннотация
Построена модель распределения плотности тока и температуры в полупроводниковом образце. Показано, что профиль температуры в образце может иметь точку перегиба, разделяющую \glqq гoрячую\grqq и \glqq холодную\grqq области. Положение точки перегиба определяется величиной тока: чем больше ток через образец, тем точка перегиба ближе к центру образца. PACS: 72.20.Fr, 72.20.Ht
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален