Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано на SciPeople2010-05-24 16:20:31

Рентгеновская микроскопия на основе кристаллов с переменным периодом решетки

Коновко Андрей Андреевич

Коновко А.А. Рентгеновская микроскопия на основе кристаллов с переменным периодом решетки : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07. - M, 2006.

Аннотация

Ключевые слова публикации:
диссертация автореферат

http://phys.msu.su/upload/iblock/86e/2006-00-00-konovko.pdf

Показать статистику

Похожие публикации

Релаксация параметров кристаллической решетки и структурное упорядочение в эпитаксиальных твердых растворах InxGa1−xAs
Структурные и оптические свойства низкотемпературных МОС–гидридных гетероструктур AlGaAs/GaAs(100) на основе твердых растворов вычитания
Рентгенодифракционная диагностика сильнолегированных монокристаллов полупроводников // X-ray diffraction diagnostics of heavily doped semiconductor single crystals
Пименов В.В., 2011, "Мы живём на решётке вакуума?"
Применение микроскопов в современной эндодонтии
Влияние кремния на релаксацию кристаллической решетки в гетероструктурах AlxGa1-xAs:Si/GaAs(100) , полученных МОС-гидридным методом

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования

Этот комментарий был удален

Этот комментарий был удален