Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 1998-00-00 ОрганизацияИнститут прикладной физики Академии наук Молдовы, 2028 Кишинев, Молдавия ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"

Исследование оптического поглощения тонких пленок a-As2Se3 методом фотоемкостной спектроскопии

Васильев И.А., Шутов С.Д.

Васильев И.А., Шутов С.Д. Исследование оптического поглощения тонких пленок a-As2Se3 методом фотоемкостной спектроскопии // ФТП, 1998, том 32, выпуск 4, Стр. 490

Аннотация Метод фотоемкостной спектроскопии впервые применен для исследования оптического поглощения пленок a-As2Se3 в области энергий фотонов, меньших оптической ширины запрещенной зоны. В интервале энергий 0.83--1.94 эВ получен спектр фотоемкости, анализ которого используется для характеристики плотности локализованных состояний в хвосте валентной зоны и на глубоких состояниях заряженных дефектов. Показано влияние старения и засветки пленки на уровень оптического поглощения глубокими центрами.