Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 2005-00-00 ОрганизацияУральский государственный экономический университет, 629219 Екатеринбург, Россия ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"

Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов наоснове халькогенидов: влияниесостава итолщины на внутреннее искривление кристаллической решетки

Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швамм К.Л.

Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швамм К.Л. Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов наоснове халькогенидов: влияниесостава итолщины на внутреннее искривление кристаллической решетки // ФТП, 2005, том 39, выпуск 8, Стр. 990

Аннотация Методами просвечивающей электронной микроскопии изучена микроструктура зерна поликристаллических образований, растущих в тонких аморфных конденсатах Ge-Te, Tl-Se, Cd-Te. Методом изгибных экстинкционных контуров в кристаллитах мелкозернистой структуры обнаружен сильный внутренний изгиб кристаллической решетки (до200 град/мкм). Изучено влияние толщины и состава исходной пленки на величину внутреннего искривления решетки зерна.