Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 1997-00-00 ОрганизацияСанкт-Петербургский государственный электротехнический университет, 197376 Санкт-Петербург, Россия ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"

Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te

Бестаев М.В., Горелик А.И., Мошников В.А., Таиров Ю.М.

Бестаев М.В., Горелик А.И., Мошников В.А., Таиров Ю.М. Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te // ФТП, 1997, том 31, выпуск 8, Стр. 980

Аннотация В монокристаллах PbTe и Pb0.8Sn0.2Te с естественной огранкой, легированных цинком и кадмием, проведено исследование распределения элементов. Показано образование многослойной структуры, наружный слой которой представляет собой ZnTe (CdTe), а под ним располагается металлический слой.